PROGRAMA
Curso
en que se recomienda: 5º
Cuatrimestre:
2º
Objetivo: Introducción a las técnicas
de medida
de las propiedades básicas de los sólidos, con especial incidencia en
los semiconductores
y en las técnicas de caracterización de los dispositivos
electrónicos.
Prácticas:
1)
Estudio de las redes de Bravais y estructuras
cristalinas.
2)
Simulación de la difracción de Rayos X
Programa
de simulación de la difracción de rayos X. Estudio de la difracción
por
diferentes redes y del efecto de la estructura interna de la celda
unidad.
3)
Simulación de las vibraciones en los sólidos: ramas acústica y
óptica.
Simulación de las
vibraciones de las redes mediante un sistema mecánico de osciladores
acoplados.
4)
Medida de las propiedades de transporte en
semiconductores.
Determinación de la
concentración de
portadores y de la movilidad electrónica, mediante medidas de
resistividad y
efecto Hall. Variación con la temperatura. Banda prohibida y
mecanismos de
dispersión.
5)
Medida del coeficiente de absorción de un
semiconductor
Introducción a las propiedades
ópticas de
los semiconductores. Espectros de transmitancia. Determinación de la
banda
prohibida a partir del coeficiente de absorción.
6)
Medidas de calor específico en sólidos
Determinación de la temperatura de
Debye.
7)
Materiales ferroeléctricos.
Determinación de la
temperatura de Curie en materiales ferroeléctricos. Ciclos de
histéresis.
8) Caracterización
de dispositivos semiconductores.
Medida de las características
I(V) en función de la temperatura, para varios
diodos.
Mecanismosde conducción
9)
Caracterización de fotodiodos y células solares
Medida de la respuesta
fotovoltaica de
fotodiodos. Características I(V) en la
oscuridad y
bajo iluminación. Parámetros de rendimiento.
EVALUACIÓN
La evaluación se basará en dos conceptos:
-
Obligatorio:
Control de los resultados de cada práctica, presentados por cada
alumno, a
través hojas de medida y cuestionarios preparados al efecto, que
deben ser
entregados al profesor después de realizarla y elaborar los datos (80
%).
- Opcional: exposición oral de
los
fundamentos, resultados y conclusiones de una de las
prácticas con
los medios que el alumno considere oportunos (transparencias, Power
Point, etc)
(20 %).
Bibliografía:
- "Introduction to solid state
physics", C. Kittel, Ed. John Wiley, 1976.
- "Solid state physics", H. Ibach, H.
Lüth, Ed. Springer-Verlag, Berlín, 1995.
- "Physics of semiconductor devices",
S.N. Sze, Ed. John
Wiley, New York, 1981.
-
"Fundamentos de electrónica física y microelectrónica", J.M. Albella,
J.M. Martínez-Duart, Ed. Addison-
Wesley/U.A. Madrid,
1996.