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Las infraestructuras de que dispone la sección de difracción de rayos X polvo permite la aplicación de diferentes técnicas, abarcando una amplia oferta en la realización de análisis mediante difracción de rayos X.

  • Optimización de programas de medida para la obtención de difractogramas, según las necesidades de los usuarios.
  • Preparación y adaptación de las muestras dependiendo de la cantidad, tamaño y naturaleza, para análisis por difracción de rayos X.
  • Análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
  • Análisis por difracción de rayos X de muestras a bajos ángulos.
  • Análisis por difracción de rayos mediante incidencia rasante.
  • Análisis por difracción de rayos X en condiciones de alta temperatura, hasta 1.200ºC.
  • Difracción de Rayos X mediante alta resolución.
  • Identificación de fases cristalinas para los usuarios que así lo requieran por medio de software Diffrac EVA, en combinación con la base de datos ICCD -2010.
  • Software Diffrac EVA “on-line” para la interpretación de resultados.
  • Software Topas.
  • Análisis termodiferencial y termogravimétrico (ATD-TG) hasta 1.300ºC.
 
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