Logo de la Universitat de València Logo Servei Central de Suport a la Investigació Experimental (SCSIE) Logo del portal

Curs “Microscòpia de força atòmica colocalitzada amb tècniques òptiques: AFN/RAMAN“

  • 16 d’abril de 2026
Curs “Microscòpia de força atòmica colocalitzada amb tècniques òptiques: AFN/RAMAN“

La quarta edició del curs es va dur a terme durant els dies 24, 25 i 26 de març i va ser impartit per les professores Ana Cros i Núria Garro, a través del Servei de Formació Permanent de la UV.

El curs es va desenvolupar en el laboratori de la Secció de Espectroscòpia Atòmica i Molecular del SCSIE i es va utilitzar l'equip Raman connectat al Microscopi de Força Atòmica que tenim disponible en les nostres dependències.

El curs va proporcionar una formació teoricopràctica en AFM per a la realització de topografia, per a poder treballar amb espectrometria raman colocalitzat en el microscopi de força atòmica i també, per a aplicar diferents modes de treball com la microscòpia de sonda kelvin, i microscòpia de piezoforça.

El curs va tindre una gran acceptació i demanda per part del personal investigador, la qual cosa evidencia tant l'interés pels continguts del mateix com la capacitat de les docents per a transmetre'ls amb claredat i eficàcia. L'elevada participació va donar lloc, a més, a la creació d'una llista d'espera per a una pròxima edició que anunciarem en el seu moment.

Imatges: