“Microscopia de fuerza atómica colocalizada con técnicas ópticas AFM/RAMAN y AFM/TERS”.

El curso se ha gestionado a través del Servei de Formació Permanent y se realizará en las instalaciones del SCSIE, los días 17,19,24, 26 y 31 de enero .

Será impartido por Ana Cros, Catedrática de Física Aplicada y Nuria Garro, Titular de Física Aplicada de la Universitat de València.

El curso tendrá seis horas teóricas online y nueve de prácticas presenciales y sus objetivos serán:

- Entender el funcionamiento básico de un AFM.

- Entender el funcionamiento del AISTY-NT para medidas de topografía

- Entender el funcionamiento del OmegaScope.

- Combinar AFM y medidas Raman en modo colocalizado.

- TERS (Tip Enhanced Raman Scattering).

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