Caracterització estructural
Caracterització mitjançant les tècniques de difracció de rajos X d'alta resolució (HRXRD), difracció múltiple de rajos X (XRMD), microscòpia d'escombratge (SEM), microscòpia de transmissió d'alta resolució (HRTEM). Els materials analitzats poden ser en volum, en forma de capes o nanoestructures.
Creixement cristal·lí
Creixement de materials mitjançant les tècniques de: Bridgman, transport de zona calenta (THM), deposició en fase vapor (PVD), deposició en fase química d'organometàlics (MOCVD), espray pirólisis (SP). Actualment es realitzen creixements de diferents tipus d'òxids (CdO, MgO, ZnO i alliatges).
