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Formación especializada del SCSIE en tecnologías AFM y detección de microplásticos
- 1 junio de 2026
Los técnicos del Servicio Central de Soporte a la Investigación Experimental (SCSIE), Santiago Guaillazada y Salomé Laredo, han participado recientemente en una formación especializada impartida en las instalaciones de la empresa Horiba, en París, centrada en el uso avanzado del Microscopio de Fuerzas Atómicas (AFM) y en técnicas de determinación y análisis de microplásticos.
La actividad, organizada en colaboración con el Grupo Álava Ingenieros, ha permitido ampliar conocimientos sobre caracterización de materiales a escala nanométrica, así como conocer nuevas metodologías aplicadas a la identificación y cuantificación de microplásticos en diferentes tipos de muestras, una línea de creciente interés científico y medioambiental.
Esta estancia técnica refuerza el compromiso del SCISE con la actualización continua de sus capacidades analíticas y la incorporación de tecnologías punteras al servicio de la comunidad investigadora.
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