Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
Marca: Hitachi S4800
Tipo: Equipo
Tipo: Equipo
Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo (FEG) con una resolución de 1.4 nm a 1 kV.
Descripción
Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo (FEG) con una resolución de 1.4 nm a 1 kV. Este equipo dispone de dos detectores de electrones secundarios para trabajar en un rango amplio de distancias de trabajo y posibilidad de deceleración.& Detector de electrones retrodispersados. Detector de electrones transmitidos. Detector de RX Bruker con el programa Quantax 400 para hacer microanálisis. Motorizado en cinco ejes.
Aplicaciones prácticas
- Estudios morfológicos tantos en muestras biológicas como de materiales.
- Caracterización de superficies y estudios de rugosidad
- Control de calidad.
- Análisis de fatiga y corrosión de materiales.
- Determinación de la composición elemental.
- Análisis de fracturas.
- Caracterización de semiconductores.
- Estudio de nanomateriales y nanopartículas.
Certificaciones de calidad
ISO 9001:2015
Condiciones de uso
Estructura/s UV que lo gestionan
Servicio Central de Soporte a la Investigación Experimental (SCSIE)
