Tipo: Equipo
Sistema de difracción de Rayos X marca Bruker modelo N8 HORIZON, es un equipo de laboratorio compacto, específico y dedicado para el análisis de dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS) e incidencia rasante a bajo ángulo (GISAXS).
El análisis por Difracción de rayos X a bajos ángulos permite obtener valores del tamaño y distribución de partícula, distancia entre las partículas, así como la ordenación de las mismas. Establecer fracciones volumétricas y grado de cristalinidad en materiales, el cálculo de la porosidad, forma y dimensiones de nanopartícula.
El equipo de difracción de Rayos X de Bajo Ángulo (Small Angle X-ray Scattering SAXS) es un sistema de Difracción vertical consta con una fuente de rayos X puntual microfoco(IuS) con una potencia máxima de 50W, refrigerada por aire.
La trayectoria del haz primario y secundario se encuentran en vacío con dos posiciones de pinhole, con colimadores tipo SCATEX pinhole y Beam Stop para una resolución extendida. La óptica Montel se encuentra integrada en la fuente de rayos X con un tamaño de spot de 0.8x0.8mm y una divergencia inferior a 0,1º.
Detector 2D Vantec 500 con alta resolución y bajo ruido de fondo con un campo de visión de 360º.
La gran cámara de muestras incluye una plataforma motorizada XY, que puede ser usada como un cambiador de muestras o un dispositivo de scanning para Nanografía. Adicionalmente, esta plataforma permite el alineamiento preciso de la muestra en el haz de Rayos X.
- Análisis de forma y tamaño de nanopartículas en estado sólido y en solución mediante técnica SAXS de Alta Resolución en el rango de 1-100 nm.
- Determinación de tamaños de poro y análisis de superficie interna específica en sistemas meso- y micro porosos.
- Determinación de la orientación y estructura interna en muestras del tipo “fibras”.
- Monitorización de reacciones en sistemas interactivos supramoleculares mediante SAXS en “tiempo resuelto”.
- Análisis avanzado de las estructuras de capas sólidas delgadas sobre superficies mediante incidencia rasante a bajo ángulo GISAXS.
- Análisis de estructura en “posición resuelta” con resolución de µm (X-Ray Nanography).
ISO 9001:2015
Uso restringido al personal de la sección de Difracción de rayos X del SCSIE. Contactar con la Sección.
- Mestre Segarra, Alicia Maria
- PAS-E.T.S. Investigacio
