Caracterización estructural
Caracterización mediante las técnicas de difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), difracción múltiple de rayos X (XRMD), microscopia de barrido (SEM), microscopia de transmisión de alta resolución (HRTEM). Los materiales analizados pueden ser en volumen, en forma de capas o nanoestructures.
Crecimiento cristalino
Crecimiento de materiales mediante las técnicas de: Bridgman, transporte de zona caliente (THM), deposición en fase vapor (PVD), deposición en fase química de organometàlics (MOCVD), espray pirólisis (SP). Actualmente se realizan crecimientos de diferentes tipos de óxidos (CdO, MgO, ZnO y alliatges).
