Descripción
Caracterización mediante las técnicas de difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), difracción múltiple de rayos X (XRMD), microscopia de barrido (SEM), microscopia de transmisión de alta resolución (HRTEM). Los materiales analizados pueden ser en volumen, en forma de capas o nanoestructures.
Palabras clave
SEM, XRD, HRXRD, HRTEM
Responsable UV
- Martinez Tomas, M Del Carmen
- PDI-Catedratic/a d'Universitat
