Descripción
En este campo se explota la capacidad para realizar captura de frente de onda por métodos holográficos para obtener medidas de la fase de los objetos, principalmente en microscopía. Las técnicas son análogas a las necesarias para captura 3D en metrología.
Palabras clave
imagen, difracción, microscopía
Responsable UV
- Mico Serrano, Vicente
- PDI-Prof. Permanent Laboral Ppl
- Coordinador/a Curs
Grupo de investigación
Clasificación Frascati
