“Microscòpia de força atòmica col·localitzada amb tècniques òptiques AFM/*RAMAN i AFM/*TERS”.

El curs s'ha gestionat a través del Servei de Formació Permanent i es realitzarà en les instal·lacions del SCSIE, els dies 17,19,24, 26 i 31 de gener .

Serà impartit per Ana Cros, Catedràtica de Física Aplicada i Núria Garro, Titular de Física Aplicada de la Universitat de València.

El curs tindrà sis hores teòriques en línia i nou de pràctiques presencials i els seus objectius seran:

- Entendre el funcionament bàsic d'un AFM.

- Entendre el funcionament del AISTY-NT per a mesures de topografia

- Entendre el funcionament del OmegaScope.

- Combinar AFM i mesures Raman en manera col·localitzat.

- TERS (Tip Enhanced Raman Scattering).

•