“Microscòpia de força atòmica col·localitzada amb tècniques òptiques AFM/*RAMAN i AFM/*TERS”.
El curs s'ha gestionat a través del Servei de Formació Permanent i es realitzarà en les instal·lacions del SCSIE, els dies 17,19,24, 26 i 31 de gener .
Serà impartit per Ana Cros, Catedràtica de Física Aplicada i Núria Garro, Titular de Física Aplicada de la Universitat de València.
El curs tindrà sis hores teòriques en línia i nou de pràctiques presencials i els seus objectius seran:
- Entendre el funcionament bàsic d'un AFM.
- Entendre el funcionament del AISTY-NT per a mesures de topografia
- Entendre el funcionament del OmegaScope.
- Combinar AFM i mesures Raman en manera col·localitzat.
- TERS (Tip Enhanced Raman Scattering).