Llega la 6ª edición del Curso de Extensión Universitaria de la Universitat de València “Experimentación con equipos electrónicos para medidas de bajo nivel”, una iniciativa que tiene como objetivo fundamental complementar la formación curricular reglada del futuro Graduado y Graduada en Ingeniería Electrónica de Telecomunicación e Ingeniería Electrónica Industrial. En particular, es una oportunidad de conocer, desde un punto de vista totalmente práctico, diversos equipos electrónicos de carácter singular destinados a la realización de medidas de bajo nivel (electrómetro, unidad de alimentación y medida, multímetros de alta resolución, fuentes de corriente, etc.).

De forma simultánea, en cada una de las experiencias proyectadas, los equipos electrónicos que se utilicen serán controlados mediante el establecimiento de sesiones de diálogo VISA utilizando el software de instrumentación virtual LabView de la firma National Instruments. Las rutinas de control que se implementen se caracterizarán por su sencillez y bajo consumo de recursos al estar basadas en el uso del lenguaje estándar de comandos SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments) evitando la utilización del driver propio del equipo.

Para las titulaciones anteriores, el curso proporciona contenidos de tipo práctico en el control de equipos electrónicos avanzados no cubiertos por la duración limitada de los módulos regulares de los Planes de Estudio asociados. El Curso está dirigido a estudiantes de 3º y 4º de las titulaciones de Graduado y Graduada en Ingeniería Electrónica de Telecomunicación y Graduado y Graduada en Ingeniería Electrónica Industrial. Cabe destacar que también se encuentra abierto a estudiantes de ciencias e ingenierías con perfil experimental. Debido a las limitaciones que impone el número de equipos electrónicos disponibles solo se admitirá a un número máximo de 20 estudiantes.

El curso, de 20 h presenciales de laboratorio, se realizará en las instalaciones de la Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ETSE-UV), en el laboratorio 3.1.3, durante los días 4, 5, 6, 7 y 8 de julio en horario de 10:00h a 14:00h. Todas las actividades formativas planificadas son de carácter presencial por lo que la asistencia será obligatoria en un mínimo del 80%. Una vez satisfecho este requisito, el Servei d’Extensió Universitària certificará, a los efectos oportunos, la realización y aprovechamiento de estas acciones formativas.

Para la admisión en el curso se considerará mérito preferente haber superado las asignaturas de la titulación correspondiente relacionadas con los contenidos reglados de instrumentación, equipos y medidas electrónicas. Para preinscribirse en el curso deberá enviarse un correo electrónico a su responsable (Prof. D. Ramírez, ramirez@uv.es) manifestando dicho interés. Una vez comunicada la admisión, deberá matricularse oficialmente a través del procedimiento de Automatrícula (www.uv.es/portalumne, Matrícula otros estudios y actividades). Las características administrativas de los Cursos de Extensión Universitaria se encuentran en http://www.uv.es/extensiouni.  Las tasas de expedición de certificado son de 51,46 euros.

PROGRAMACIÓN DE EXPERIENCIAS

• Experiencia 1. Caracterización de semiconductores mediante la unidad de alimentación y medida Keithley 2400.
• Experiencia 2. Medida de la corriente de cortocircuito de un fotodiodo mediante el multímetro Keithley 2010.
• Experiencia 3. Medida de la absorción dieléctrica de un condensador.
• Experiencia 4. Medida de la resistencia efectiva de shunt mediante el sistema de adquisición Keithley 2700 y el módulo multiplexor Keithley 7700.
• Experiencia 5. Obtención de la respuesta en frecuencia en amplitud de la impedancia de un electrodo de conductividad electrolítica mediante la fuente de corriente Keithley 6221.
• Experiencia 6. Familiarización con las rutinas de test implementadas en el electrómetro Keithley 6517A.
• Experiencia 7. Caracterización de componentes semiconductores mediante la fuente de corriente Keithley 220 y el multímetro digital Keithley 2000.
• Experiencia 8. Caracterización DC de sensores de corriente magnetorresistivos en puente de Wheatstone.
• Experiencia 9. Caracterización de los elementos de un puente de Wheatstone resistivo mediante el sistema de adquisición Keithley 2700.
• Experiencia 10. Obtención experimental de los coeficientes de temperatura de termorresistencias basadas en Pt y Ru.

Para más información o dudas:

Coordinador y responsable: Prof. Diego Ramírez Muñoz (ramirez@uv.es), Dpto. Ingeniería Electrónica, Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ETSE-UV).

Servei d'Extensió Universitària (extensio@uv.es) 9639 83800, 9639 83141

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