Arriba la 6a edició del Curs d'Extensió Universitària de la Universitat de València “Experimentació amb equips electrònics per a mesures de baix nivell”, una iniciativa que té com a objectiu fonamental complementar la formació curricular reglada del futur Graduat i Graduada en Enginyeria Electrònica de Telecomunicació i Enginyeria Electrònica Industrial. En particular, és una oportunitat de conéixer, des d'un punt de vista totalment pràctic, diversos equips electrònics de caràcter singular destinats a la realització de mesures de baix nivell (electròmetre, unitat d'alimentació i mesura, multímetres d'alta resolució, fonts de corrent, etc.).
De manera simultània, en cadascuna de les experiències projectades, els equips electrònics que s'utilitzen seran controlats mitjançant l'establiment de sessions de diàleg VISA utilitzant el programari d'instrumentació virtual LabView de la signatura National Instruments. Les rutines de control que s'implementen es caracteritzaran per la seua senzillesa i baix consum de recursos en estar basades en l'ús del llenguatge estàndard de comandos SCPI (Standard Commands for Programmable Instruments) evitant la utilització del driver propi de l'equip.
Per a les titulacions anteriors, el curs proporciona continguts de tipus pràctic en el control d'equips electrònics avançats no coberts per la duració limitada dels mòduls regulars dels Plans d'Estudi associats. El Curs està dirigit a estudiants de 3r i 4t de les titulacions de Graduat i Graduada en Enginyeria Electrònica de Telecomunicació i Graduat i Graduada en Enginyeria Electrònica Industrial. Cal destacar que també es troba obert a estudiants de ciències i enginyeries amb perfil experimental. A causa de les limitacions que imposa el nombre d'equips electrònics disponibles solo s'admetrà a un número màxim de 20 estudiants.
El curs, de 20 h presencials de laboratori, es realitzarà en les instal·lacions de l'Escola Tècnica Superior d'Enginyeria (ETSE-UV), en el laboratori 3.1.3, durant els dies 4, 5, 6, 7 i 8 de juliol en horari de 10:00h a 14:00h. Totes les activitats formatives planificades són de caràcter presencial pel que l'assistència serà obligatòria en un mínim del 80%. Una vegada satisfet aquest requisit, el Servei d’Extensió Universitària certificarà, als efectes oportuns, la realització i aprofitament d'aquestes accions formatives.
Per a l'admissió en el curs es considerarà mèrit preferent haver superat les assignatures de la titulació corresponent relacionades amb els continguts reglats d'instrumentació, equips i mesures electròniques. Per a preinscriure's en el curs haurà d'enviar-se un correu electrònic al seu responsable (Prof. Sr. Ramírez, ramirez@uv.es) manifestant aquest interés. Una vegada comunicada l'admissió, haurà de matricular-se oficialment a través del procediment d'Automatrícula (www.uv.es/portalumne, Matrícula altres estudis i activitats). Les característiques administratives dels Cursos d'Extensió Universitària es troben en http://www.uv.es/extensiouni. Les taxes d'expedició de certificat són de 51,46 euros.
PROGRAMACIÓ D'EXPERIÈNCIES
• Experiència 1. Caracterització de semiconductors mitjançant la unitat d'alimentació i mesura Keithley 2400.
• Experiència 2. Mesura del corrent de curtcircuit d'un fotodíode mitjançant el multímetre Keithley 2010.
• Experiència 3. Mesura de l'absorció dielèctrica d'un condensador.
• Experiència 4. Mesura de la resistència efectiva de xunt mitjançant el sistema d'adquisició Keithley 2700 i el mòdul multiplexor Keithley 7700.
• Experiència 5. Obtenció de la resposta en freqüència en amplitud de la impedància d'un elèctrode de conductivitat electrolítica mitjançant la font de corrent Keithley 6221.
• Experiència 6. Familiarització amb les rutines de test implementades en l'electròmetre Keithley 6517A.
• Experiència 7. Caracterització de components semiconductors mitjançant la font de corrent Keithley 220 i el multímetre digital Keithley 2000.
• Experiència 8. Caracterització DC de sensors de corrent *magnetorresistivos en pont de Wheatstone.
• Experiència 9. Caracterització dels elements d'un pont de Wheatstone resistivo mitjançant el sistema d'adquisició Keithley 2700.
• Experiència 10. Obtenció experimental dels coeficients de temperatura de termorresistencias basades en Pt i Ru.
Per a més informació o dubtes:
Coordinador i responsable: Prof. Diego Ramírez Muñoz (ramirez@uv.es), Dpto. Enginyeria Electrònica, Escola Tècnica Superior d'Enginyeria (ETSE-UV).
Servei d'Extensió Universitària (extensio@uv.es) 9639 83800, 9639 83141
