Microscopio Electrónico de Barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado (FIB). Dispone de microanálisis EDX, opción crio para la observación de muestras congeladas y presión variable.

• Manual de uso

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo con haz de iones enfocado SCIOS 2.

Columna de electrones

• Resolución del haz de electrones
  • 0,7 nm a 30 kV STEM
  • 1,4 nm a 1 kV
  • 1,2 nm a 1 kV con deceleración
• Corriente de haz de 1 pA a 400 nA
• Voltaje de aceleración de 200 V a 30 kV

Columna de Iones Ga

• Voltaje de Aceleración 500 V a 30 kV
• Corriente de haz de 1,5 pA a 65 nA
• Resolución 3 nm
• GIS disponibles Pt, W y C

Microanálisis EDX

• Detector Oxford Ultim Max 170, con una ventana de 170 mm² permite la adquisición de análisis cuantitativos a más de 400.000 cps.
• Software AzTec INCA, para el análisis de los datos que incluye opción TrueMap. Este postprocesado elimina del mapa composicional los solapamientos entre diferentes elementos y la señal de fondo.

Sistema Crio QUORUM PP3010

Este accesorio dispone de una estación para la congelación instantánea de la muestra mediante la técnica del Slush y su posterior trasferencia al interior del microscopio manteniendo en todo momento la muestra a baja temperatura.