Tipo: Equipo
Sistema de difracción de Rayos X difractómetro multipropósito y sistema Pre-FIX tiene la capacidad única de medir, mediante un solo instrumento, cualquier tipo de muestra: desde polvos hasta películas delgadas y desde nanomateriales hasta objetos sólidos.
Difractómetro que permite realizar análisis de muestras en forma películas delgadas, análisis de tensiones residuales y texturas.
El equipo está configurado con goniómetro de alta resolución en horizontal, tubo de rayos X de Cu y una cuna euleriana como plataforma portamuestras que permite realizar movimientos programables de Phi, Psi, X, Y, Z.
Los módulos de óptica de haz incidente disponibles son:
- Rendija fija de divergencia.
- Monocromador de cuatro cristales Ge (220).
- Espejo de rayos X.
- Colimador de foco puntual de rendijas cruzadas.
Las ópticas de haz difractado disponibles son:
- Rendijas de anti-scatter y de recepción fijas.
- Monocromador secundario curvo.
- Colimador de haz paralelo.
- Detector proporcional sellado de Xe.
Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas y polimorfismo.
Análisis por difracción de rayos X de alta resolución que permiten:
- El estudio de orientaciones preferentes y análisis de textura.
- Estudios en función de la profundidad mediante incidencia rasante.
- La caracterización de capas epitaxiales.
ISO 9001:2015
Uso restringido al personal de la sección de Difracción de rayos X del SCSIE. Contactar con la Sección.
- Mestre Segarra, Alicia Maria
- PAS-E.T.S. Investigacio
