Logo de la Universitat de València Logo Grup de Creixement Cristal·lí i Caracterització de Semiconductors (CRECYCSEM) Logo del portal

Jornada sobre les últimes innovacions en òxids avançats per a l'electrònica i tecnologies fotòniques en la Jornada Científica "AOFAT: Advanced Oxides For Advanced Technologies"

  • Grup de Creixement Cristal·lí i Caracterització de Semiconductors (CRECYCSEM)
  • 10 de novembre de 2014
Facultad de Física UV
Facultad de Física UV

El grup d'investigació CRECYCSEM organitza una Jornada Científica sobre obtenció i caracterització de materials avançats "AOFAT: Advanced Oxides For Advanced Technologies". Este esdeveniment, afavorit per la Conselleria d'Educació, tindrà lloc els dies 18 i 19 de novembre de 2014, en el Departament de Física Aplicada.

Programa

Organitzat pel grup de creixement cristal·lí i caracterització de semiconductors (CreCYCSem), esta trobada reunix a destacats investigadors de la Universitat de València, l'Institut Jaume Almera (CSIC) de Barcelona i la Universitat del País Basc, especialitzats en el creixement cristal·lí de materials avançats i la seua caracterització.

  • Data: 18-19 de Novembre de 2014.
  • Lloc: Departament de Física Aplicada, Universitat de València.
  • Programa (PDF)

La jornada comptarà amb presentacions d'experts en el camp, abordant temes com el creixement d'òxids de cadmi, caracterització morfològica i estructural, nanoinspección, i molt més. Destacats professionals com el Dr. Lluís Artús i la Dra. Paloma Fernández compartiran els seus coneixements sobre avanços en optical phonons i nanoestructuras de ZnS, respectivament.

Els objectius d'esta jornada inclouen la difusió de les activitats del grup CreCYCSem, la consolidació de col·laboracions científiques i la discussió del "estat de l'art" en mètodes i tècniques d'obtenció i caracterització d'òxids avançats.