• Caracteritzación estructural

Caracterización mediante las técnicas de difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), difracción múltiple de rayos X (XRMD), microscopia de barrido (SEM), microscopia de transmisión de alta resolución (HRTEM). Los materiales analizados pueden ser en volumen, en forma de capas o nanoestructures.

• Crecimiento cristalíno

Crecimiento de materiales mediante las técnicas de: Bridgman, transporte de zona caliente (THM), deposición en fase vapor (PVD), deposición en fase química de organometàlics (MOCVD), espray pirólisis (SP). Actualmente se realizan crecimientos de diferentes tipos de óxidos (CdO, MgO, ZnO).

• Propiedades físicas

Caracterización de propiedades físicas, con especial énfasis en las propiedades ópticas: absorción, fotoluminescència, espectroscopia Raman.