La Fundación Universidad-Empresa, ADEIT, fue el lugar de encuentro para la segunda edición de la Jornada Científica AOFAT (Óxidos Avanzados para Tecnologías Avanzadas).
Bajo el patrocinio de la Generalitat Valenciana, Conselleria d'Educació, y con la coordinación del reconocido experto Vicente Muñoz Sanjosé, el evento reunió a investigadores y expertos en óxidos avanzados II-VI para abordar los últimos avances en electrónica, sensores y tecnologías fotónicas.
El Grupo de Crecimiento Cristalino y Caracterización de Semiconductores (CreCYCSem), compuesto por investigadores de la Universidad de Valencia, el Instituto Jaume Almera (CSIC) de Barcelona y la Universidad del País Vasco, destacó su actividad investigadora centrada en el crecimiento cristalino de materiales avanzados, la caracterización morfológica y estructural, así como la evaluación de propiedades físicas, especialmente las ópticas y defectos.
La jornada incluyó un programa rico en conocimientos, con sesiones matinales moderadas por la Dra. Carmen Martínez Tomas y el Dr. Elías Muñoz por la tarde. Varias conferencias abordaron temas como el efecto del recocido térmico rápido en nanofilamentos ZnCdO con alto contenido de Cd, la aplicación de difracción de electrones para la caracterización de nanoestructuras de ZnO, el análisis óptico de puntos cuánticos MgZnO, entre otros.
La jornada concluyó con una mesa redonda coordinada por el Dr. Elías Muñoz y una despedida con una charla a cargo del mismo Dr. Elías Muñoz. Este evento no solo ha impulsado el diálogo científico, sino que también ha consolidado la posición de Valencia como centro de excelencia en investigación sobre óxidos avanzados y sus aplicaciones innovadoras.
