Descripció
Caracterització mitjançant les tècniques de difracció de rajos X d'alta resolució (HRXRD), difracció múltiple de rajos X (XRMD), microscòpia d'escombratge (SEM), microscòpia de transmissió d'alta resolució (HRTEM). Els materials analitzats poden ser en volum, en forma de capes o nanoestructures.
Paraules clau
SEM, XRD, HRXRD, HRTEM
Responsable UV
- Martinez Tomas, M Del Carmen
- PDI-Catedratic/a d'Universitat
