Descripción
Aplicación de técnicas de alta resolución espacial (menor que 1 micra) a la caracterización estructural, óptica y eléctrica de nanoestructuras semiconductoras y láminas de grafeno policristalino. Desarrollo de técnicas de alta sensibilidad para el estudio y detección de nanoestructuras y moléculas.
Palabras clave
SERS, surface enhanced raman scattering, TERS, tip enhanced raman scattering, raman, fotoluminiscencia, AFM, atomic force microscopy, KPFM, CAFM,
Responsable UV
- Garro Martinez, Nuria
- PDI-Titular d'Universitat
Clasificación Frascati
