Descripció
Aplicació de tècniques d'alta resolució espacial (menor que 1 micra) a la caracterització estructural, òptica i elèctrica de nanoestructures semiconductores i làmines de grafé policristalí. Desenvolupament de tècniques d'alta sensibilitat per a l'estudi i detecció de nanoestructures i molècules.
Paraules clau
SERS, surface enhanced raman scattering, TERS, tip enhanced raman scattering, raman, fotoluminiscència, AFM, atomic force microscopy, KPFM, CAFM,
Responsable UV
- Garro Martinez, Nuria
- PDI-Titular d'Universitat
Classificació Frascati
