P8
TSI-069100-2023-0012
El objetivo del proyecto se centra en el desarrollo de un sistema de caracterización de materiales semiconductores con procedimientos no destructivos y de forma rápida basado en la técnica de corriente transitoria mediante la absorción de dos fotones (TPA-TCT).
El sistema se diseñará para su integración en los procesos de control de calidad de fábricas productoras de chips semiconductores (foundries) y se pondrá en práctica preliminarmente en el análisis y desarrollo de detectores de píxeles de tecnología CMOS de nueva generación
CMOS, absorción no lineal
- Mariñas Pardo, Carlos
Ministerio para la Transformación Digital y de la Función Pública, Plan de recuperación, transformación y resiliencia de la Unión Europea, «Unión Europea - NextGenerationEU»
Subvención en el marco del Plan de Recuperación, Transformación y Resiliencia Europeo, financiado por la UE, NextGenerationEU.
Proyecto financiado por la Secretaría de Estado de Telecomunicaciones e Infraestructuras Digitales. Referencia TS-069100-2023-0012.
FYLA LASER, S.L.
- EU - NextGenerationEU
