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Seminario “Introducción al diseño y solución de problemas EMI/EMC con escáneres de campo cercano"

  • 19 octubre de 2016
Seminario “Introducción al diseño y solución de problemas EMI/EMC con escáneres de campo cercano

Se trata de un seminario eminentemente práctico y muy útil para quienes deseen refrescar los conceptos más importantes en algunos de los retos más comunes en EMC descubriendo al mismo tiempo una serie de herramientas de gran potencial a la hora de analizar y optimizar un diseño concreto.

Burjassot, Valencia (24 de octubre)

Escola Tècnica Superior d’Enginyería - Universitat de València

Avinguda de la Universitat, s/n

Aula 2.1.5

En este seminario se presentarán los fundamentos del diseño y solución de problemas más habituales de Compatibilidad Electromagnética haciendo uso de escáneres y herramientas de medida en campo cercano.

El seminario será impartido por Arturo Mediano, Doctor Ingeniero Industrial y Profesor Titular de la Universidad de Zaragoza y miembro del Grupo de Electrónica de Potencia y Microelectrónica (GEPM) del Instituto Universitario de Investigación en Ingeniería de Aragón de la Universidad de Zaragoza.

La agenda del seminario será la siguiente:

Horario

Presentación

08:30 – 09:00

Inscripción

09:00 – 09:15

Bienvenida y Presentación

09:15 – 10:45

Revisión de fundamentos EMI/EMC

·      EMI/EMC: fuentes y víctimas

·      Dos problemas: emisión e inmunidad

·      Campos eléctrico y magnético en circuitos electrónicos

·      ¿Por qué tenemos problemas EMI/EMC?

·      El gran secreto: controlar la corriente

·      Descubre los campos CERCANO y LEJANO

10:45 – 11:30

Herramientas para diseño y diagnóstico

·      Sondas de campo cercano y accesorios

·      Escáneres de campo cercano

·      Escáner espacial y espectral

11:30 – 12:00

Café

12:00 – 13:00

Casos reales y demostraciones

·      Escáner en diversos diseños reales

·      Demostraciones con FieldFox y  EMSCAN

·      Ejemplo: ferritas, cable, desacoplo y filtrado

13:00 – 14:00

Presentación de las soluciones de medida utilizadas y preguntas