Principios
La difracción de Rayos X en muestras de polvo cristalino es una técnica no destructiva que permite tanto la identificación de las distintas fases cristalinas existentes en una muestra como la caracterización estructural y microestructural de sólidos. Debido a que las longitudes de onda de los Rayos X son del mismo orden que las distancias interatómicas de los cristales, estos actuarán como redes de difracción, difractando los Rayos X en direcciones determinadas y con intensidades características en función de su estructura cristalina. La microestructura del material delimita la extensión en la que la estructura cristalina permanece inalterada; los defectos cristalinos y el tamaño de los granos afectan a la forma del perfil de difracción del material, haciendo posible su estudio a través de esta técnica.
Aplicaciones
- Análisis cualitativo y cuantitativo de las fases cristalinas
- Determinación estructural. Resolución y refinamiento de estructuras cristalinas
- Caracterización de transiciones de fase
- Seguimiento de reacciones en estado sólido
- Estimación del tamaño de partícula
Equipos disponibles
Difractómetro de polvo Seifert XRD 3003 TT con portamuestras automático
Difractómetro de polvo Seifert XRD 3003 TT con configuración variable
- Tabla XYZ
- Cámara de Temperatura
- Sistema de capilares
- Monocromador de Germanio
- Detector Posicional MBraun PSD-500
Información Adicional
Fabricantes
Educación
- ICSD
- ICDD
- Enlaces Interesantes de Cristalografia
- Estructura de sólidos
Contacto
Dirección local:
Laboratorio 0.3.3
Edificio "Blanco"
Campus Universitario de Paterna
Tlf:+34 963543760
