Principis
La difracció de Rajos X en mostres de pols cristal·lina és una tècnica no destructiva que permet tant la identificació de les diferents fases cristal·lines existents en una mostra com la caracterització estructural i microestructural de sòlids. A causa que les longituds d'ona dels Rajos X són del mateix ordre que les distàncies interatómiques dels cristalls, aquests actuaran com a xarxes de difracció, difractant els Rajos X en direccions determinades i amb intensitats característiques en funció de la seua estructura cristal·lina. La microestructura del material delimita l'extensió en la qual l'estructura cristal·lina roman inalterada; els defectes cristal·lins i la grandària dels grans afecten a la forma del perfil de difracció del material, fent possible el seu estudi a través d'aquesta tècnica.
Aplicacions
- Anàlisi qualitativa i quantitativa de les fases cristal·lines
- Determinació estructural. Resolució i refinament d'estructures cristal·lines
- Caracterització de transicions de fase
- Seguiment de reaccions en estat sòlid
- Estimació de la grandària de partícula
Equips disponibles
Difractómetre de pols Seifert XRD 3003 TT amb portamostres automàtic
Difractómetre de pols Seifert XRD 3003 TT amb configuració variable
- Taula XYZ
- Càmera de Temperatura
- Sistema de capil·lars
- Monocromador de Germani
- Detector Posicional MBraun PSD-500
Informació Adicional
Fabricants
Educació
- ICSD
- ICDD
- Enllaços Interesants de Cristalografia
- Estructura de sólidos
Contacte
Adreça local:
Laboratori 0.3.3
Edifici "Blanc"
Campus Universitari de Paterna
Tlf:+34 963543760
