Tipus: Equip
Sistema de difracció de Raigs X difractòmetre multipropòsit i sistema Pre-FIX té la capacitat única de mesurar, mitjançant un sol instrument, qualsevol tipus de mostra: des de pólvores fins a pel·lícules primes i des de nanomaterials fins a objectes sòlids.
Difractòmetre que permet realitzar anàlisi de mostres en forma pel·lícules primes, anàlisis de tensions residuals i textures.
L'equip està configurat amb goniòmetre d'alta resolució en horitzontal, tub de raigs X de Cu i un bressol eulerià com a plataforma portamostres que permet realitzar moviments programables de Phi, Psi, X, I, Z.
Els mòduls d'òptica de feix incident disponibles són:
- Escletxa fixa de divergència.
- Monocromador de quatre cristalls Ge (220).
- Espill de raigs X.
- Col·limador de focus puntual d'escletxes creuades.
Les òptiques de feix difractat disponibles són:
- Escletxes d'anti-scatter i de recepció fixes.
- Monocromador secundari corb.
- Col·limador de feix paral·lel.
- Detector proporcional segellat de Xe.
Anàlisi qualitativa i quantitativa de fases cristal·lines i polimorfisme.
Anàlisi per difracció de raigs X d'alta resolució que permeten:
- L'estudi d'orientacions preferents i anàlisis de textura.
- Estudis en funció de la profunditat mitjançant incidència rasant.
- La caracterització de capes epitaxials.
ISO 9001:2015
Ús restringit al personal de la secció de Difracció de raigs X del SCSIE. Contactar amb la Secció.
- Mestre Segarra, Alicia Maria
- PAS-E.T.S. Investigacio
