València (9 de maig)
Escola Tècnica Superior d'Enginyería
Universitat de València
Avinguda de la Universitat, s/n
Aula 2.1.5
Les tendències actuals del mercat de l'electrònica i les telecomunicacions obliguen als professionals a enfrontar-se a noves tecnologies i situacions cada vegada més complexes, havent de trobar solucions amb un pressupost cada vegada més limitat.
Conèixer la instrumentació de propòsit general i les seues aplicacions a necessitats específiques en proves des del nivell de component a sistema de comunicació, no solament escurça el cicle disseny/desenvolupament i proves, sinó que també resulta indispensable per a l'obtenció de resultats precisos i reeixits.
En aquest seminari, presentarem l'arquitectura interna de la instrumentació i els fonaments de mesura teòrics i pràctics necessaris per a la caracterització de dispositius en RF en les següents àrees: Analitzadors d'Espectre, Analitzadors de Senyal, Mesuradors de Potència i Analitzadors de Xarxes, utilitzant equips de RF en les demostracions.
L'agenda del seminari serà la següent:
|
Horari |
Presentació |
|
09:00 – 09:10 |
Benvinguda i introducció |
|
09:10 – 10:30 |
Fonaments d'anàlisis d'espectre |
|
10:30 - 11:00 |
Cafè |
|
11:00-11:45 |
Fonaments d'anàlisi vectorial de senyal |
|
11: 45 - 12:15 |
Fonaments de mesura de potència en RF |
|
12:15 - 13:30 |
Fonaments d'anàlisi vectorial de xarxes |
|
13:30 |
Tancament |
La inscripció a aquest seminari és gratuïta i el nombre de places limitat.
Pot inscriure's a través de la pàgina web, cridant al 800 000 154, o si ho prefereix envie un missatge amb les seues dades de contacte a contactcenter_spain@keysight.com
