Els tècnics del Servei Central de Suport a la Investigació Experimental (SCSIE), Santiago Guaillazada i Salomé Laredo, han participat recentment en una formació especialitzada impartida en les instal·lacions de l'empresa Horiba, a París, centrada en l'ús avançat del Microscopi de Forces Atòmiques (AFM) i en tècniques de determinació i anàlisi de microplàstics.

L'activitat, organitzada en col·laboració amb el Grup Àlaba Enginyers, ha permés ampliar coneixements sobre caracterització de materials a escala nanomètrica, així com conéixer noves metodologies aplicades a la identificació i quantificació de microplàstics en diferents tipus de mostres, una línia de creixent interés científic i mediambiental.

Aquesta estada tècnica reforça el compromís del SCISE amb l'actualització contínua de les seues capacitats analítiques i la incorporació de tecnologies capdavanteres al servei de la comunitat investigadora.

• 
• 
•