Logo de la Universitat de València Logo Servei Central de Suport a la Investigació Experimental (SCSIE) Logo del portal

Segona edició del curs “Microscòpia de força atòmica colocalitzada amb tècniques òptiques AFM/RAMAN”

  • 20 de gener de 2023
Segona edició del curs “Microscòpia de força atòmica colocalitzada amb tècniques òptiques AFM/RAMAN”

La Secció de Espectroscopía Atòmica i Molecular organitza al costat del Servei de Formació Permanent la segona edició del curs

Després dels bons resultats de la primera edició, s'ha tornat a organitzar enguany al costat del Servei   de Formació Permanent, té lloc en les instal·lacions de la secció situada en el SCSIE, durant els dies 12, 13, 18, 19,  23, 24 i 27 de gener.

Les docents del curs són Ana Cros, Catedràtica de Física Aplicada i Núria Garro, Titular de Física Aplicada de la Universitat de València i té com a objectius, entendre i aprendre a manejar un AFM per a mesures de topografia i combinar diferents maneres de mesura per a combinar AFM i Raman colocalitzat. Tot organitzat en sis hores teòriques en línia i nou de pràctiques presencials en l'equip.

Imatges: