Tipus: Equip
Sistema de difracció de Raigs X marca Bruker model N8 HORIZON, és un equip de laboratori compacte, específic i dedicat per a l'anàlisi de dispersió de raigs X a baix angle (SAXS) i incidència rasant a baix angle (GISAXS).
L'anàlisi per Difracció de raigs X a baixos angles permet obtindre valors de la grandària i distribució de partícula, distància entre les partícules, així com l'ordenació d'aquestes. Establir fraccions volumètriques i grau de cristal.linitat en materials, el càlcul de la porositat, forma i dimensions de nanopartícula.
L'equip de difracció de Raigs X de Baix Angle (Small Angle X-ray Scattering SAXS) és un sistema de Difracció vertical consta amb una font de raigs X puntual microfocus (IuS) amb una potència màxima de 50W, refrigerada per aire.
La trajectòria del feix primari i secundari es troben en buit amb dues posicions de pinhole, amb col·limadors tipus SCATEX pinhole i Beam Stop per a una resolució estesa. L'òptica Montel es troba integrada en la font de raigs X amb una grandària d'espot de 0.8x0.8mm i una divergència inferior a 0,1°.
Detector 2D Vantec 500 amb alta resolució i sota soroll de fons amb un camp de visió de 360é.
La gran càmera de mostres inclou una plataforma motoritzada XY, que pot ser usada com un canviador de mostres o un dispositiu de scanning per a Nanografia. Addicionalment, aquesta plataforma permet l'alineament precís de la mostra en el feix de Raigs X.
- Anàlisi de forma i grandària de nanopartícules en estat sòlid i en solució mitjançant tècnica SAXS d'Alta Resolució en el rang de 1-100 nm.
- Determinació de grandàries de porus i anàlisis de superfície interna específica en sistemes meso- i micro porosos.
- Determinació de l'orientació i estructura interna en mostres del tipus “fibres”.
- Monitoratge de reaccions en sistemes interactius supramoleculars mitjançant SAXS en “temps resolt”.
- Anàlisi avançada de les estructures de capes sòlides primes sobre superfícies mitjançant incidència rasant a baix angle GISAXS.
- Anàlisi d'estructura en “posició resolta” amb resolució de µm (X-Ray Nanography).
ISO 9001:2015
Ús restringit al personal de la secció de Difracció de raigs X del SCSIE. Contactar amb la Secció.
- Mestre Segarra, Alicia Maria
- PAS-Ets Investigacio
