Las infraestructuras de que dispone la sección de difracción de rayos X polvo permite la aplicación de diferentes técnicas, abarcando una amplia oferta en la realización de análisis mediante difracción de rayos X.

• Optimización de programas de medida para la obtención de difractogramas, según las necesidades de los usuarios.
• Preparación y adaptación de las muestras dependiendo de la cantidad, tamaño y naturaleza, para análisis por difracción de rayos X.
• Análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
• Análisis por difracción de rayos X de muestras a bajos ángulos.
• Análisis por difracción de rayos mediante incidencia rasante.
• Análisis por difracción de rayos X en condiciones de alta temperatura, hasta 1.200ºC.
• Difracción de Rayos X mediante alta resolución.
• Identificación de fases cristalinas para los usuarios que así lo requieran por medio de software Diffrac EVA, en combinación con la base de datos ICCD -2010.
• Software Diffrac EVA “on-line” para la interpretación de resultados.
• Software Topas.
• Análisis termodiferencial y termogravimétrico (ATD-TG) hasta 1.300ºC.