Grupo de crecimiento cristalino y caracterización de semiconductores - CRECYCSEM

Referencia del grupo:

GIUV2013-072

 
Descripción de la actividad investigadora:
El grupo de crecimiento cristalino de la Universitat de València centra su actividad en el crecimiento y la caracterización estructural y morfológica de semiconductores, tanto en volumen como en forma de capas y nanoestructuras. Esta actividad se ha ejercido fundamentalmente en el marco de diferentes proyectos de investigación dentro del área de materiales para la optoelectrónica y la espintrónica. Los resultados obtenidos se han plasmado en una significativa contribución académica tanto en artículos en revistas de amplia difusión científica como en congresos y workskops. La aproximación al sector tecnológico se ha realizado en dos áreas: la de energía solar y la de sensores de humedad e infrarrojos. Para el desarrollo de esta actividad investigadora se ha preparado un laboratorio en que se han instalado diferentes técnicas de crecimiento cristalino: Bridgman, Physical Vapor Transporte, Travelling Heater Method, MOCVD, Espray Pirólisis, Hidrotermal; así como diferentes técnicas de preparación y tratamientos puesto-crecimiento, lo cual aporta una amplia oferta de infraestructuras y posibilidades de desarrollo. En relación con la caracterización estructural y morfológica, los...El grupo de crecimiento cristalino de la Universitat de València centra su actividad en el crecimiento y la caracterización estructural y morfológica de semiconductores, tanto en volumen como en forma de capas y nanoestructuras. Esta actividad se ha ejercido fundamentalmente en el marco de diferentes proyectos de investigación dentro del área de materiales para la optoelectrónica y la espintrónica. Los resultados obtenidos se han plasmado en una significativa contribución académica tanto en artículos en revistas de amplia difusión científica como en congresos y workskops. La aproximación al sector tecnológico se ha realizado en dos áreas: la de energía solar y la de sensores de humedad e infrarrojos. Para el desarrollo de esta actividad investigadora se ha preparado un laboratorio en que se han instalado diferentes técnicas de crecimiento cristalino: Bridgman, Physical Vapor Transporte, Travelling Heater Method, MOCVD, Espray Pirólisis, Hidrotermal; así como diferentes técnicas de preparación y tratamientos puesto-crecimiento, lo cual aporta una amplia oferta de infraestructuras y posibilidades de desarrollo. En relación con la caracterización estructural y morfológica, los miembros del grupo tienen una contrastada experiencia en difracción de rayos-X de alta resolución (HRXRD) y microscopia electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM). La correlación de las propiedades de los materiales con las condiciones de crecimiento ha permitido un mejor conocimiento de los procesos de crecimiento y defectos estructurales y son el eje de la parte principal del trabajo del grupo. En la actualidad una buena parte de la actividad está centrada en los óxidos de materiales del grupo II (ZnO, CdO y MgO) así como sus aleaciones. En este marco estuvo el liderazgo del proyecto europeo SOXESS así como la organización del Symposium IX en la E-MRS sobre este tema. El grupo colabora de forma regular tanto con grupos nacionales (Uno.Valladolid, Uno. País Vasco, Instituto Jaume Almera, (ISOM) UPM, como extranjeros (CNRS-Bellevue, Francia; Universidad del Warwick, Reino Unido; National Renewable Energy Lab. en Golden, Colorado, EE. UU.).
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Página Web:
 
Objetivos cientificotécnicos:
  • Crecimiento cristalino y caracterizacion de materiales para la optoelectronica UV y la espintronica
 
Líneas de investigación:
  • Crecimiento cristalino.Crecimiento de materiales mediante las técnicas de: Bridgman, transporte de zona caliente (THM), deposición en fase vapor (PVD), deposición química de vapor metalorgánico (MOCVD), espray pirólisis (SP). Actualmente se realizan crecimientos de diferentes tipos de óxidos (CdO, MgO, ZnO y aleaciones).
  • Caracterización estrutural.Caracterización mediante las técnicas de difracción de rayos X de alta resolución (HRXRD), difracción múltiple de rayos X (XRMD), microscopia de barrido (SEM), microscopia de transmisión de alta resolución (HRTEM). Los materiales analizados pueden ser en volumen, en forma de capas o nanoestructuras.
  • Propiedades físicas.Caracterización de propiedades físicas, con especial énfasis en las propiedades ópticas: absorción, fotoluminescencia, espectroscopia Raman.
 
Componentes del grupo:
Nombre Carácter de la participación Entidad Descripción
VICENTE MUÑOZ SANJOSEDirector-aUniversitat de ValènciaCatedràtica/Catedràtic d'Universitat
Equipo de investigación
LUIS ARTUS SURROCAColaborador-aConsejo Superior de Investigaciones Científicasinvestigador-a
RAMON CUSCO CORNETColaborador-aConsejo Superior de Investigaciones Científicasinvestigador-a
JOSE ANGEL GARCIA GARCIAColaborador-aUniversidad del País Vasco Euskal Herriko Unibertsitateacatedrático-a de universidad
 
CNAE:
  • Otra investigación y desarrollo experimental en ciencias naturales y técnicas.
 
Estructura asociada:
  • Física Aplicada y Electromagnetismo
 
Palabras clave:
  • Bridgman; THM; PVD; MOCVD; SP; CdO; MgO; ZnO
  • SEM; XRD; HRXRD; HRTEM
  • Propiedades fisicas de semiconductores