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La sección difracción de rayos X polvo del SCSIE, de la Universidad de Valencia, tiene como objetivo dar apoyo a la investigación básica y aplicada en las diferentes áreas de conocimiento que trabajan los Investigadores de la Universidad de Valencia, InstitutosTecnológicos y entidades dedicadas al estudio de materiales.
La difracción de los rayos X es una de las técnicas más útiles para la caracterización de compuestos y materiales cristalinos. Su carácter no destructivo permite su aplicación en una amplia variedad de disciplinas científicas como Ciencias Químicas, Geológicas, Físicas, Ciencia de Materiales, Arqueología y Ciencias Ambientales.
El equipamiento disponible permite la caracterización de una amplia gama de materiales de diversa naturaleza como minerales, plásticos, semiconductores, materiales cerámicos, pigmentos, y en general productos pulverulentos obtenidos a partir de síntesis química. El laboratorio está dirigido a la realización de estudios relacionados con la estructura cristalina de la materia, identificación de fases cristalinas a partir de patrones de difracción, estudios estructurales, el análisis de perfil del difractograma y estudios de alta resolución a partir de los datos de análisis por difracción de rayos X.

 
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