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IMPORTANTE

La Sección reanuda el servicio el 18 de mayo de 2020 de manera gradual. 

Las instrucciones de reinicio de actividad se han de consultar en este enlace

 

La sección difracción de rayos X polvo del SCSIE, de la Universidad de Valencia, tiene como objetivo dar apoyo a la investigación básica y aplicada en las diferentes áreas de conocimiento que trabajan los Investigadores de la Universidad de Valencia, InstitutosTecnológicos y entidades dedicadas al estudio de materiales.
La difracción de los rayos X es una de las técnicas más útiles para la caracterización de compuestos y materiales cristalinos. Su carácter no destructivo permite su aplicación en una amplia variedad de disciplinas científicas como Ciencias Químicas, Geológicas, Físicas, Ciencia de Materiales, Arqueología y Ciencias Ambientales.
El equipamiento disponible permite la caracterización de una amplia gama de materiales de diversa naturaleza como minerales, plásticos, semiconductores, materiales cerámicos, pigmentos, y en general productos pulverulentos obtenidos a partir de síntesis química. El laboratorio está dirigido a la realización de estudios relacionados con la estructura cristalina de la materia, identificación de fases cristalinas a partir de patrones de difracción, estudios estructurales, el análisis de perfil del difractograma y estudios de alta resolución a partir de los datos de análisis por difracción de rayos X.